生產環(huán)境中粉塵的危害性與粉塵中 SiO₂  (游離二氧化硅) 含量密切相關。世界各國均將粉塵中游離二氧化硅含量作為制定粉塵衛(wèi)生標準的重要指標之一。工作場所中，游離二氧化硅含量大于10%的粉塵稱為矽塵。長期接觸矽塵會導致矽肺，這是我國最為嚴重的職業(yè)病之一。2014年國家安監(jiān)總局在《職業(yè)衛(wèi)生技術服務機構工作規(guī)范》（安監(jiān)總廳安健〔2014〕39 號）第十四條第（二）款規(guī)定：對于二氧化硅成分不明的粉塵或含游離二氧化硅的粉塵，應進行游離二氧化硅含量測定，確定粉塵性質。

游離二氧化硅是指沒有與金屬或金屬氧化物結合而呈游離狀態(tài)的二氧化硅。游離二氧化硅按晶體結構分為結晶型（crystalline）、隱晶型（crypto crystalline）和無定型（amorphous）三種。工作場所粉塵中游離二氧化硅含量的測定按照GBZ/T 192.4-2007《工作場所空氣中粉塵測定 第4部分：游離二氧化硅含量》進行，包含焦磷酸法、紅外分光光度計和X射線衍射法。焦磷酸法屬于手工操作，十分考驗實驗員基礎化學操作的熟練程度，因此對人員的要求較高，耗時又繁瑣，實驗結果受實驗人員操作熟練程度的影響較大；X射線衍射法，價格過于昂貴，對于基層的可普及性較差；紅外光譜法，操作簡便，測試快速，結果準確。整個過程僅使用了少量的溴化鉀試劑，環(huán)保且高效，目前對于基層可普及性較強。